Владимир Гуревич. Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы

В книге рассмотрены устройство и принцип действия микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ) на примерах конкретных типов современных МУРЗ ведущих мировых производителей. Для облегчения понимания текста энергетиками, работающими с МУРЗ, но не являющимися специалистами в области электроники, приведено подробное описание элементной базы МУРЗ, устройства и принципов действия транзисторов, тиристоров, оптронов, реле.

Рассматриваются конкретные проблемы надежности отдельных функциональных узлов МУРЗ, а также вопросы, касающиеся методики оценки надежности и эффективности МУРЗ. Подробно рассмотрены вопросы электромагнитных воздействий на МУРЗ как естественных, так и преднамеренных, кибербезопасности.
Книга рассчитана на инженеров и техников, занимающихся эксплуатацией релейной защиты, а также может быть полезна конструкторам, занимающимся разработкой МУРЗ, преподавателям и студентам соответствующих специальностей средних и высших учебных заведений.

Содержание:

• Предисловие

Глава I. Элементная база

• Полупроводниковые материалы и приборы
• Принцип действия транзистора
• Некоторые другие типы транзисторов
• Основные режимы работы транзисторов
• Логические элементы на транзисторах
• Тиристоры
• Оптроны
• Электромагнитные реле
• Полупроводниковые управляющие устройства (драйверы) для электромеханических реле

Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты

• Общая структура и конструктивное исполнение микропроцессорных устройств релейной защиты (МУРЗ)
• Модули аналоговых входов
• Модули выходных реле
• Модули цифровых (логических) входов
• Модуль центрального процессора
• Внутренний источник питания
• Система самодиагностики МУРЗ
• Новая концепция построения МУРЗ
• Литература к главе II

Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения

• Мифы о надежности МУРЗ
• Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
• Логические входы: проблемы и решения
• Реальные данные о надежности МУРЗ
• Проблемы оценки надежности МУРЗ
• Литература к главе III

Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ

• Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
• Грозовые разряды
• Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
• Проблемы экранирования контрольных кабелей
• Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
• Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
• Качество напряжения в питающей сети
• Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
• Кибербезопасность
• Литература к главе IV

Издательство: Инфра-Инженерия
Год издания: 2011
Страниц: 336
ISBN: 978-5-9729-0043-5
Формат: DjVu
Качество: отличное

 

Скачать книгу «Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы» (10,7 МБ):